高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：可將低溫、高溫、試驗(yàn)時(shí)間、程序一次性設(shè)定，由設(shè)備自行走程序運(yùn)行，是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

①GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

②GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

③GJB 150.3-1986   高溫試驗(yàn)

④GJB 150.4-1986   低溫試驗(yàn)

⑤IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷.

⑥GB 11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

⑦GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》.

⑧GB/T10586-89  濕熱試驗(yàn)箱條件

⑨GT/T2423.3-93、GT/T2423.4-93  濕熱試驗(yàn)箱